目的：检测载带内有无IC
方法：在载带上方安装相机，载带随着产线一直向前运动，相机每次采集包含有3个IC的载带片段同时检测是否缺失IC，给出OK或者NG信号，再接着采集下一段载带，如此一直检测下去。
性能：检测速度：60mm/s；检测时间：4~5件/秒；检测精度：0.02mm
适用领域：适用于电子行业的电容器、IC、芯片引脚缺陷等检测。
系统配置：
相机：KW -VD078SM
（1024×768、1/3″、USB黑白CCD）
镜头：KW -2514MP
光源：KW -RL12068W
PC：KW -VS800嵌入式处理器
软件：KW -ICS机器视觉图像处理软件
（局部匹配、区域比对）
检测效果：